一、品質(zhì)檢查
（一）、X-ray撿查
組裝后利用X-ray可看到BGA腹底隱藏銲點(diǎn)的搭橋、開(kāi)路、銲料不足、銲料過(guò)量、掉球、失淮、爆米花，以及最常出現(xiàn)的空洞等缺失。下表為各種檢驗(yàn)手法可實(shí)施的場(chǎng)合及功效。
（二）、掃描式超聲波顯微術(shù)
完工的組裝板可利用SAM掃瞄檢查各種內(nèi)在隱藏情況，封裝業(yè)系用以偵測(cè)各種內(nèi)藏的空洞與分層。本SAM法又可分為A〈點(diǎn)狀）、B〈線狀）、C〈面狀）等三種掃瞄成像方式，以C-SAM面狀掃瞄者最常用。
圖1、左圖為SAM原理簡(jiǎn)示圖；右圖為編者所補(bǔ)充之C-SAM攝影畫(huà)面。
（三）、側(cè)視顏樣銳法
法可針對(duì)侷限死角區(qū)域的微小事物，進(jìn)行光學(xué)放大之側(cè)向目視檢查。BGA的球腳焊接情況即可用以檢查外圈情況。本法是利用稜鏡旋轉(zhuǎn)90°式的鏡頭聚焦，再搭配高解析度的CCD以傳送畫(huà)面。倍率在50X到200X之間，還可實(shí)施正光與背光觀察?？梢?jiàn)到銲點(diǎn)情況有：總體外觀、吃錫情形、銲點(diǎn)形狀、銲點(diǎn)表面花紋、助焊劑殘?jiān)雀鞣N缺點(diǎn)。但此法對(duì)BGA的內(nèi)球卻看不到，需利用極細(xì)的光纖管內(nèi)視鏡伸入腹內(nèi)去直接觀察。然而理念雖好卻并不務(wù)實(shí)，不但昂貴而且容易折斷。
圖2、左為側(cè)視放大鏡之沿邊擷取畫(huà)面之情形，右為光纖管式內(nèi)視放大儀伸入腹底直接觀察之眞實(shí)情形。
圖3、左圖為側(cè)視顯微鏡之外圍球腳放大畫(huà)面；右圖為編者所另補(bǔ)加之高鉛非矮化球腳完成焊接之畫(huà)面。
（四）、螺絲起子測(cè)強(qiáng)法
利用特殊起子轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)所發(fā)生的扭力矩，去頂起并撕裂銲點(diǎn)，以觀察其強(qiáng)度如何。此法雖可找出銲點(diǎn)浮離、介面分裂、或銲體開(kāi)裂等缺失，但對(duì)薄板卻效果不佳。
圖4、此圖說(shuō)明利用簡(jiǎn)單之手工具去檢測(cè)銲點(diǎn)強(qiáng)度。
（五）、微切片法
本法不但需要切樣製備的各種設(shè)施，而且更需要精密的技巧與豐富的判讀知識(shí)，才能以破壞式的做法，追根究底找出眞正問(wèn)題之所在。
（六）、滲入染色法（俗稱紅墨水法）
將試樣浸入已稀釋的專用紅色染料溶液中，于是各種銲點(diǎn)的裂縫與小洞即遭其毛細(xì)式的滲入，隨后即予以烤乾。當(dāng)各試驗(yàn)球腳被強(qiáng)力拉開(kāi)或撬開(kāi)后，即可檢查斷面上有無(wú)紅斑，而看出銲點(diǎn)的完整性如何？本法又稱為Dye and Pry，其染液也可用螢光染料另行配製，于紫外光環(huán)境中將更容易看清楚眞相。
圖5、此二圖說(shuō)明某BGA之角球焊點(diǎn)是否已發(fā)生裂紋之證據(jù)。
二、球腳空洞及其他缺點(diǎn)
（一）、銲點(diǎn)空洞的成因
各種SMT錫膏所形成的銲點(diǎn)，都免不了會(huì)出現(xiàn)大小多寡不等的空洞，尤其以BGA/CSP球腳類銲點(diǎn)的空洞更多，且進(jìn)入高熱量的無(wú)鉛焊接后，其空洞的趨勢(shì)更是火上澆油，惡劣程度自必遠(yuǎn)甚于前。追究其成因約可歸數(shù)類于后：
(1)有機(jī)物料：錫膏中含有機(jī)物約10-12% by wt，其中又以較多的助焊劑影響最大，各種助焊劑的裂解發(fā)氣程度不同，應(yīng)選用發(fā)氣率較少者為上策。其次是高熱中的助焊劑會(huì)附著在銲料表面的氧化物上，故能快速除去氧化物者即可減少空洞的生成。由于無(wú)鉛焊錫性并不好，也將使得空洞更形惡化。
(2)銲料：熔融銲料與清潔待焊面接觸時(shí)，會(huì)立即生成IMC而焊牢。但此反應(yīng)將受到銲料表面張力大小的影響，表面張力較大者其內(nèi)聚力也大，于是向外擴(kuò)張所需的附著力或流動(dòng)性均將變差。因而使得表面張力較大的SAC305其錫膏銲點(diǎn)中有機(jī)物或氣泡等，就不容逸出銲體之外，而只能被拘留在體內(nèi)成為空洞。一且一旦錫球熔點(diǎn)低于錫膏時(shí)，則空洞會(huì)不斷浮入球中而聚集變多，下二圖即為其想法之圖示說(shuō)明
圖6、右圖當(dāng)錫球先熔而錫膏后熔時(shí)，則形成的氣泡就會(huì)浮入球體之中。
(3)表面處理：凡墊面處理皮膜容易沾錫者，其空洞即會(huì)減少， 否則縮錫或拒焊等處，都將引發(fā)氣泡的聚集而成大洞。至于容易造成銲點(diǎn)開(kāi)裂的介面微洞，則以浸鎮(zhèn)銀兩者較常發(fā)生。浸銀表面有一層透明的有機(jī)薄膜，可用以防止銀變色；由于焊接中銀層會(huì)迅速溶于液錫中形成Ag3Sn5的IMC。剩下的有機(jī)膜在強(qiáng)熱中不免會(huì)裂解而成為微洞，特稱為"香檳泡抹"，故知銀層不宜太厚而以0.2μm以下較佳。OSP太厚時(shí)也會(huì)產(chǎn)生介面微洞，其皮膜不可超過(guò)0.4 μm。
圖7、左為編者所切到球腳的大型空洞，右為PCB浸銀墊面發(fā)生的介面微洞
圖8、浸鍍銀是在酸性槽液之銅面上，以置換方式產(chǎn)生的皮膜。為了同時(shí)完成防變色的功能起見(jiàn)，外表又附著一層有機(jī)分子的薄膜，使得銀面不致過(guò)份劣化而影響到焊錫性。后續(xù)焊接反應(yīng)中銀份會(huì)迅速溶入液鍚形成Ag3Sn5的片狀I(lǐng)MC，介面上所留下的有機(jī)膜一旦遭遇強(qiáng)熱，很可能就會(huì)裂解成為眾多的小空洞，特稱為"香檳泡抹"。
(4)有時(shí)焊墊面積較大者則也較易發(fā)生空洞或微洞，此時(shí)可採(cǎi)分裂法加入數(shù)道出氣的溝渠，或印上綠漆十字線，方便使氣體逸出而避免空洞。至于微盲孔造成的空洞，當(dāng)然以電鍍銅塡孔為最佳的選擇了 。其他避免錫膏吸水，杜絕銅面過(guò)份粗糙或有機(jī)殘膜等，也都是減少空洞的有效做法。
（二）、空洞允收規(guī)格
球腳空洞太多時(shí)將影響其導(dǎo)電與傳熱，而且銲點(diǎn)可靠度也不好。下表其俯視剖面空洞直徑所占球徑之允收度上限為25%，此25%之直徑約等于總接觸面積之6%，且大小空洞須合併計(jì)算。球腳與載板或電路板上下兩種焊墊之介面空洞，實(shí)際上才是開(kāi)裂之主因。
圖9、左圖說(shuō)明空洞直徑不可超過(guò)俯視球徑的25%。中圖說(shuō)明空洞直徑若占球徑之35%時(shí)，約等于所占?jí)|面之12%面積比例。右圖為新型X-Ray儀器搭配特殊軟體，而可測(cè)到球徑、空洞面積與單一大洞等數(shù)據(jù)。
（三）、空洞分類
BGA空洞按其位置與來(lái)源可分為5類，憑良心講上列表圖對(duì)空洞之分類堪稱十分粗糙，將來(lái)勢(shì)必還會(huì)再修正。
（四）、搭橋
球腳之間搭橋短路的原因可能有：錫膏印刷不良、元器件放置不正確、放置后又再進(jìn)行手動(dòng)調(diào)整，或熔焊中濺錫所致。而Open的原因有錫膏印刷不良、放置后又加以調(diào)動(dòng)，共面性不良，或板面焊墊之焊錫性不良等。
（五）、冷彈
Cold Solder之主要原因是：熱量不足所致，其銲料與被焊面之間并未形成IMC，或IMC之?dāng)?shù)量與厚度不足，以致未能展現(xiàn)有力之強(qiáng)度。此種缺點(diǎn)只能用光學(xué)顯微鏡與微切片去仔細(xì)檢查。
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